用户在测试5G FR1介质滤波器、隔离器这类无源器件的S参数时，由于产品自身物理特性的限制，通常每个器件都需要调试。测试挑战元器件生产调试时间长，需求很多VNA调试工位，测试成本长期居高不下为了满足批量生产的需求，用户需要布置很多工位来调试这些器件的S参数指标。传统的做法是在每个工位独立配置一台二端口VNA，这样整个车间会需求大量的VNA，导致用户的测试成本长期居高不下。如何进一步降低测试成本，成为用户当前最大的挑战。传统测试方案带来大量的资源闲置在调试这类无源器件时，通常只需观测一个测量画面下的曲线变化情况，与仪器相关的参数配置基本固定不变。而现代VNA测量功能非常强大，可以同时配置多组测量